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| 品牌 | 浪聲 | 類型 | 鍍層 |
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| 測量范圍 | 看 | 產地 | 國產 |
INSIGHT 桌面式鍍層測厚儀使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集并匯聚成微束斑，照射在樣品位置，從而獲得良好的空間分辨率及很強的熒光信號，通過能譜探頭及后續的數據處理器等采集、處理并評價樣品被輻照后產生的熒光信號，得出樣品的成分信息。它可實現更復雜應用的快速測量和精準分析，是對不均勻或形狀不規則的未知樣品以及微觀物體進行元素分析的理想方法。
INSIGHT 桌面式鍍層測厚儀是一款上照式鍍層分析儀，具有外觀緊湊、節約空間、易于操作、分析快速、檢測精準等特點，被廣泛應用于常規和復雜鍍層結構的樣品進行元素分析和厚度檢測，尤其是對不均勻、不規則，甚至微小件等形態的樣品，確保客戶獲得可靠、可重復結果以滿足數百種應用，包括：珠寶首飾、小零件、連接器鍍層、普通電路板等。
使用優勢
多準直器可選或多種準直器組合由軟件自動切換，可靈活應對不同尺寸的零件。
配備直觀而智能的分析軟件，操作簡單，任何人無需培訓都可以測試樣品，僅僅需要點擊“開始測試"，數十秒即可獲得檢測結果啦。
高低大小樣品可快速清晰對焦，視頻圖像可放大、含十字線、自動聚焦。
儀器殼體的開槽設計（C型槽）使得測量空間寬大，樣品放置便捷，可以測量如印刷線路板類大而平整的物品，也可以放置形狀復雜的大樣品。
X射線熒光是無損分析過程，不留任何痕跡，即使是對敏感性材料，其測量也是非常安全的。
選用適合于多元素鍍層的高靈敏度的半導體探測器，比起傳統的封氣正比計數器，半導體探測器具有更佳分辨率、更低的背景噪聲（最高 S/N 比）長期穩定性以及更長的使用壽命。
應用場景
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通用小零件和小結構 |
燃料電池 |
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